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信頼性評価向け
テストシステム

パワー半導体(IGBT,SiC,SBD)パワーモジュールに最適

IGBTをはじめSiCパワー半導体は、高効率な電力変換を可能にするキーデバイスとして注目されています。特に電気自動車(EV) や再生可能エネルギー分野での活用が拡大しており、グリーン投資の増加を背景に、市場規模は今後順調に成長すると予測されています。
パワー半導体の需要が順調に増加し、自動車をはじめ多様な製品への採用が進む中、製品(デバイス)の長期信頼性やパッケージの熱特性に関する評価がますます重要になっています。
こういった市場動向に追従し、効率良く信頼性評価を進められるよう、半導体評価装置を準備いたしました。
本装置は、AEC-Q101、AQG324、JESD22などの信頼性規格に準拠した試験が可能であり、特に車載用途で求められる厳しい環境下での評価に最適です。以下の試験項目に対応する装置をラインアップしています。

評価対応可能項目一覧

  • ・高温順バイアス試験
  • ・高温逆バイアス試験
  • ・高温ゲートバイアス試験
  • ・高温高湿逆バイアス試験
  • ・ダイナミック逆バイアス試験
  • ・ダイナミック高温高湿逆バイアス試験
  • ・ダイナミック高温順バイアス試験
  • ・パワーサイクル試験

試験装置ラインアップ

                                                                                                                                                                                                           
和名 対応規格        
IGBTパワーサイクル試験システムAQG324 JESD51      
IGBTパワーモジュール試験システムGB/T 18488.1-2015 GB/T 18488.2-2015 GB/T 29307-2012 QCE893-2011 GB/T 18385-2005
LSICバーンイン試験システムMIL-STD-883 MIL-STD-38150 ACE-Q101 JESD22-A108  
ウェハーレベル試験システムAEC-Q101 JEP183 IEC60749-23 JESD22-A108F  
オプトカプラバーンイン試験システムMIL-STD-75        
完結寿命バーンイン試験システムMIL-STD-750D AEC-Q101      
高温アンチバイアスバーンイン試験システムMIL-STD-750D AQG324      
高温ゲートバイアスバーンイン試験システムJESD22-A101 AQG324 GJB128 MIL-STD-750D  
高温バイアスバーンイン試験システムAEC-Q102 AQG324 JESD22-A101    
高温パワーモジュール用バーンイン試験システムMIL-STD-883D MIL-M-28787 AEC-Q100 JESD22-A108 GB2423
高温リバースバイアスバーンイン試験システムMIL-STD-750D AQG324      
高温高湿度リバースバイアスバーンイン試験システムMIL-STD-750D AEC-Q101 JESD22-A101    
集積回路動的高温バーンイン試験システムMIL-STD-883 MIL-STD-38510      
多機能包括的バーンイン試験システムMIL-STD-750        
動的高温ゲートバイアスバーンイン試験システムAEC-Q101 AQG324 JESD22-A101    
動的高温リバースバイアスバーンイン試験システムAEC-Q101 AQG324 JESD22-A101    
動的高温高湿度リバースバイアスバーンイン試験システムAEC-Q102 AQG324 JESD22-A101    
動的電力部品バーンイン試験システムMIL-STD-750D AEC-Q101 AQG324 JESD22  
高温キャパシタ用バーンイン試験システムMIL-STD-202E        
高温高湿度キャパシタ用バーンイン試験システムMIL-STD-202E        
高温静的マイクロ波管用バーンイン試験システムMIL-STD-750 MIL-M-19500      
定電流ツェナーダイオード用バーンイン試験システムMIL-STD-750        
高温出力LED用バーンイン試験システムAEC-Q101 AEC-Q102 JESD22-A101 JESD22-A108  
電源自動試験システムSJ20646-97ハイブリッド集積回路 DC/DC コンバータ向け  

信頼性評価向けテストシステム

パワー半導体(IGBT,SiC,SBD)
パワーモジュールに最適

IGBTをはじめSiCパワー半導体は、高効率な電力変換を可能にするキーデバイスとして注目されています。特に電気自動車(EV) や再生可能エネルギー分野での活用が拡大しており、グリーン投資の増加を背景に、市場規模は今後順調に成長すると予測されています。
パワー半導体の需要が順調に増加し、自動車をはじめ多様な製品への採用が進む中、製品(デバイス)の長期信頼性やパッケージの熱特性に関する評価がますます重要になっています。
こういった市場動向に追従し、効率良く信頼性評価を進められるよう、半導体評価装置を準備いたしました。
本装置は、AEC-Q101、AQG324、JESD22などの信頼性規格に準拠した試験が可能であり、特に車載用途で求められる厳しい環境下での評価に最適です。以下の試験項目に対応する装置をラインアップしています。

評価対応可能項目一覧

  • ・高温順バイアス試験
  • ・高温逆バイアス試験
  • ・高温ゲートバイアス試験
  • ・高温高湿逆バイアス試験
  • ・ダイナミック逆バイアス試験
  • ・ダイナミック高温高湿逆バイアス試験
  • ・ダイナミック高温順バイアス試験
  • ・パワーサイクル試験

試験装置ラインアップ

                                                                                                                                                                                                           
和名 対応規格        
IGBTパワーサイクル試験システムAQG324 JESD51      
IGBTパワーモジュール試験システムGB/T 18488.1-2015 GB/T 18488.2-2015 GB/T 29307-2012 QCE893-2011 GB/T 18385-2005
LSICバーンイン試験システムMIL-STD-883 MIL-STD-38150 ACE-Q101 JESD22-A108  
ウェハーレベル試験システムAEC-Q101 JEP183 IEC60749-23 JESD22-A108F  
オプトカプラバーンイン試験システムMIL-STD-75        
完結寿命バーンイン試験システムMIL-STD-750D AEC-Q101      
高温アンチバイアスバーンイン試験システムMIL-STD-750D AQG324      
高温ゲートバイアスバーンイン試験システムJESD22-A101 AQG324 GJB128 MIL-STD-750D  
高温バイアスバーンイン試験システムAEC-Q102 AQG324 JESD22-A101    
高温パワーモジュール用バーンイン試験システムMIL-STD-883D MIL-M-28787 AEC-Q100 JESD22-A108 GB2423
高温リバースバイアスバーンイン試験システムMIL-STD-750D AQG324      
高温高湿度リバースバイアスバーンイン試験システムMIL-STD-750D AEC-Q101 JESD22-A101    
集積回路動的高温バーンイン試験システムMIL-STD-883 MIL-STD-38510      
多機能包括的バーンイン試験システムMIL-STD-750        
動的高温ゲートバイアスバーンイン試験システムAEC-Q101 AQG324 JESD22-A101    
動的高温リバースバイアスバーンイン試験システムAEC-Q101 AQG324 JESD22-A101    
動的高温高湿度リバースバイアスバーンイン試験システムAEC-Q102 AQG324 JESD22-A101    
動的電力部品バーンイン試験システムMIL-STD-750D AEC-Q101 AQG324 JESD22  
高温キャパシタ用バーンイン試験システムMIL-STD-202E        
高温高湿度キャパシタ用バーンイン試験システムMIL-STD-202E        
高温静的マイクロ波管用バーンイン試験システムMIL-STD-750 MIL-M-19500      
定電流ツェナーダイオード用バーンイン試験システムMIL-STD-750        
高温出力LED用バーンイン試験システムAEC-Q101 AEC-Q102 JESD22-A101 JESD22-A108  
電源自動試験システムSJ20646-97ハイブリッド集積回路 DC/DC コンバータ向け  

ワンストップ評価請負サービスの提供

信頼性評価装置を保有していないお客様向けに、「パワー半導体向け信頼性評価装置」を活用した評価請負サービスの提供をお客様のご要望に応じて対応します。単一の装置で実施する評価試験に加え、複数項目の試験実施、規格に準拠した試験の実施、また提携機関と連携した物理解析を含め、信頼性評価の全工程を一括して提供するワンストップサービスを実現します。 ご依頼の場合は、予め評価項目や対象となるデバイスの詳細をご相談ください。

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