LSI・ロジックIC評価装置 半導体評価装置 製品紹介 高温動作寿命テストシステム (FPGA, DSP, VLSI用)2温度／16テストゾーン 本システムは、TDBI（Test During Burn-In）技術を採用し、室温+10℃～150℃で高温動作寿命(HTOL)テストを実行できる装置です。試験中に、コンポーネントの出力信号がリアルタイムに検出され、そのベクトルを自動的に比較することが可能です。 ・各評価ボードには8つのプログラム可能な電源（0.5～10V/0～25A）が提供され、電源仕様は個別にカスタマイズ可能 ・各評価ボードには184のDRチャンネルと32の双方向I/Oチャンネルが搭載 ・各チャンバーは最大4kWの熱放散が可能 ・STIL、VCT、VECフォーマットのベクターファイルを直接インポートして使用可能 ・チップBIST（組み込み自己診断テスト）をサポート ・実験者の安全を十分に考慮した設計 適用規格 MIL-STD-883 MIL-STD-38510 AEC-Q101 JESD22A-108 アプリケーション 一般的な用途の集積回路（IC）メモリ、FPGA、ARM、DSP、その他のVLS（I 超大規模集積回路） 製品型番 型番 仕様 HAT-LSIC01A 製品概要 Test temperature zone 2 Test temperature RT +10℃~150°C Burn-in test zone 16 ZONE/32 SLOTS Digital signal frequency 12.5MHz Vector depth 16M depth Signal channels 184 channels (including 32 bidirectional I/O) Clock groups 8 Signal period 80~20480nS Timing edge 2 edges PIN format 8 types Programmable VIH 0.5~5V Voltage compare range 0.5~5V I/O drive current DC≥50mA, Instantaneous current≥80mA DPS power supply 0.5~6.0V/25A (10V/10A optional) DPS power supplies 8(can be configured according to customer requirements) DPS output protectsion OVP(Overvoltage), UVP (Undervoltage), OCP (Overcurrent) Machine power supply Three-phase AC200V±20V Maximum power 35KW (typical) Total weight 1600KG (typical) Dimensions of machine 3200mm(W)×1675mm(D)×2370mm(H) 高温動作寿命テストシステム(FPGA,DSP,VLSI用)1温度／32テストゾーン 本システムは、DUT（Device Under Test）に対して、室温+10℃～150℃で高温動作寿命（HTOL）テストを実行できる装置です。試験中にコンポーネントの出力信号がリアルタイムに検出され、そのベクトルを自動的に比較することが可能です。 ・各評価ボードには10個のプログラム可能な電源（0.5～10V/0～25A）が提供され、電源仕様は個別にカスタマイズ可能 ・各評価ボードには256の双方向I/Oチャンネルが搭載 ・各チャンバーは最大38kWの熱放散が可能 ・STIL、VCT、VECフォーマットのベクターファイルを直接インポートして使用可能 ・チップBIST（組み込み自己診断テスト）をサポート ・最大２４個の独立した温度制御が可能 ・実験者の安全を十分に考慮した設計 適用規格 MIL-STD-883 MIL-STD-38510 AEC-Q101 JESD22A-108 アプリケーション 一般的な用途の集積回路(IC)メモリ、FPGA、ARM、DSP、その他のVLSI(超大規模集積回路) 製品型番 型番 仕様 HAT-LSIC02A 製品概要 Test temperature zone 1 Test temperature RT +10°C~150°C Burn-in test zone 32 Digital signal frequency 10MHz Vector depth 16M depth Signal channels 256 independent programmable bidirectional I/O Clock groups 8 Signal period 80-20480nS Timing edge 2 edges PIN format 8 types Programmable VIH 0.5-5V Voltage compare range 0.5~5V I/O drive current DC≥50mA, Instantaneous current＞80mA DPS power supply 0.5-6.0V/25A (10V/10A, 6V/50A optional) DPS power supplies 10 (can be configured according to customer requirement) DPS output protectsion OVP(Overvoltage), UVP (Undervoltage), OCP (Overcurrent) Machine power supply Three-phase AC380± 38V Maximum power 100KW (typical) Total weight 2200KG (typical) Dimensions of machine 2500mm(W)×1450mm(D)×2470mm(H)
LSI・ロジックIC評価装置 半導体評価装置 製品紹介 高温動作寿命テストシステム (FPGA, DSP, VLSI用)2温度／16テストゾーン 本システムは、TDBI（Test During Burn-In）技術を採用し、室温+10℃～150℃で高温動作寿命(HTOL)テストを実行できる装置です。試験中に、コンポーネントの出力信号がリアルタイムに検出され、そのベクトルを自動的に比較することが可能です。 ・各評価ボードには8つのプログラム可能な電源（0.5～10V/0～25A）が提供され、電源仕様は個別にカスタマイズ可能 ・各評価ボードには184のDRチャンネルと32の双方向I/Oチャンネルが搭載 ・各チャンバーは最大4kWの熱放散が可能 ・STIL、VCT、VECフォーマットのベクターファイルを直接インポートして使用可能 ・チップBIST（組み込み自己診断テスト）をサポート ・実験者の安全を十分に考慮した設計 適用規格 MIL-STD-883 MIL-STD-38510 AEC-Q101 JESD22A-108 アプリケーション 一般的な用途の集積回路（IC）メモリ、FPGA、ARM、DSP、その他のVLS（I 超大規模集積回路） 製品型番 型番 仕様 HAT-LSIC01A 製品概要 Test temperature zone 2 Test temperature RT +10℃~150°C Burn-in test zone 16 ZONE/32 SLOTS Digital signal frequency 12.5MHz Vector depth 16M depth Signal channels 184 channels (including 32 bidirectional I/O) Clock groups 8 Signal period 80~20480nS Timing edge 2 edges PIN format 8 types Programmable VIH 0.5~5V Voltage compare range 0.5~5V I/O drive current DC≥50mA, Instantaneous current≥80mA DPS power supply 0.5~6.0V/25A (10V/10A optional) DPS power supplies 8(can be configured according to customer requirements) DPS output protectsion OVP(Overvoltage), UVP (Undervoltage), OCP (Overcurrent) Machine power supply Three-phase AC200V±20V Maximum power 35KW (typical) Total weight 1600KG (typical) Dimensions of machine 3200mm(W)×1675mm(D)×2370mm(H) 高温動作寿命テストシステム(FPGA,DSP,VLSI用)1温度／32テストゾーン 本システムは、DUT（Device Under Test）に対して、室温+10℃～150℃で高温動作寿命（HTOL）テストを実行できる装置です。試験中にコンポーネントの出力信号がリアルタイムに検出され、そのベクトルを自動的に比較することが可能です。 ・各評価ボードには10個のプログラム可能な電源（0.5～10V/0～25A）が提供され、電源仕様は個別にカスタマイズ可能 ・各評価ボードには256の双方向I/Oチャンネルが搭載 ・各チャンバーは最大38kWの熱放散が可能 ・STIL、VCT、VECフォーマットのベクターファイルを直接インポートして使用可能 ・チップBIST（組み込み自己診断テスト）をサポート ・最大２４個の独立した温度制御が可能 ・実験者の安全を十分に考慮した設計 適用規格 MIL-STD-883 MIL-STD-38510 AEC-Q101 JESD22A-108 アプリケーション 一般的な用途の集積回路(IC)メモリ、FPGA、ARM、DSP、その他のVLSI(超大規模集積回路) 製品型番 型番 仕様 HAT-LSIC02A 製品概要 Test temperature zone 1 Test temperature RT +10°C~150°C Burn-in test zone 32 Digital signal frequency 10MHz Vector depth 16M depth Signal channels 256 independent programmable bidirectional I/O Clock groups 8 Signal period 80-20480nS Timing edge 2 edges PIN format 8 types Programmable VIH 0.5-5V Voltage compare range 0.5~5V I/O drive current DC≥50mA, Instantaneous current＞80mA DPS power supply 0.5-6.0V/25A (10V/10A, 6V/50A optional) DPS power supplies 10 (can be configured according to customer requirement) DPS output protectsion OVP(Overvoltage), UVP (Undervoltage), OCP (Overcurrent) Machine power supply Three-phase AC380± 38V Maximum power 100KW (typical) Total weight 2200KG (typical) Dimensions of machine 2500mm(W)×1450mm(D)×2470mm(H)