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その他ラインナップ
HAT-DHTRB01A
高温ダイナミック逆バイアステストシステム
(ディスクリート部品用)
8テストゾーン
本システムは、AQG324規格に準拠したSiC MOSFETの高温ダイナミック逆バイアス試験を実施できる装置です。 各試験エリアに、独立したパルス電源を備えた最大12ステーションの試験が可能です。試験温度範囲は室温+10℃～200℃です。また、試験デバイスの短絡解除機能を備えており、他のデバイスの試験に影響を与えることなく、故障したデバイスを試験から自動的に切り離すことができます。
HAT-MPSOIA
高温テストシステム (パワーモジュール用)
16テストゾーン
本システムはパワーモジュールの高温動作試験を実施できる装置です。試験中はDUT(Device Under Test)の出力電圧，出力電流を測定します。
HAT-DHTGB01A
高温ダイナミックゲートバイアステストシステム
(ディスクリート部品用)
8テストゾーン
本システムは、第3世代SiC MOSFETの高温ダイナミックゲートバイアス試験を実施できる装置です。各試験エリアは、独立して最大12ステーションの試験が可能で、12個の独立したパルス電源を設定でき、デバイスのリーク電流Igssは互いに干渉しません。試験温度範囲は室温+10℃～200℃です。また、試験デバイスの短絡解除機能を備えており、他のデバイスの試験に影響を与えることなく、試験中に故障したデバイスを自動的に切り離すことができます。
HAT-GPIC01A
高温ダイナミックテストシステム
(集積回路用)
16テストゾーン
本システムは室温＋10℃から200℃で動的HTOL試験を実施する装置です。試験中はDUT(Device Under Test)の電流と出力信号をリアルタイムでします。
HAT-HTRB01A
高温逆バイアステストシステム
1温度／16(/32/40/48)テストゾーン
本システムは、室温+10℃～200℃の高温逆バイアス試験を実施する装置です。試験中は、DUT(Device Under Test)のリーク電流と電圧をリアルタイムで監視し、必要に応じてテストデータの記録・出力も可能です。
HAT-IOL01A
パワーサイクル/IOLテストシステム
16テストゾーン
本システムは，ディスクリート部品を対象としたIOL(Intermittent Operational Life Test)試験を実施できる装置です。常温環境下で通電を繰り返し行い，通電時のデバイスの発熱により温度変化によるストレスをデバイスに加えます。
HAT-H3TRB01A
高温高湿逆バイアステストシステム
1温度／16(/8)テストゾーン
本システムは、高温高湿（85℃、85%RH）逆バイアス試験を実施できる装置です。試験中は、DUT(Device Under Test)のリーク電流と電圧をリアルタイムで監視し、必要に応じて試験データの記録やテストレポートを出力することも可能です。
HAT-MFS04A
高温高出力テストシステム (LED用)
8テストゾーン
本システムは，LEDに対して高温連続通電試験を実施できる装置です。
HAT-CWBS01A
ウェハーレベル信頼性テストシステム
1温度／1テストゾーン
本システムは、JEDEC信頼性テスト標準に基づいた、6インチ/8インチのウェハーレベルデバイスの高温制御電気信頼性テストを行う装置です。高精度な高電圧出力が可能で、高精度な電流値、制御温度や他のパラメータを記録し、記録されたテストデータに基づき、実験表とMAP図を複数形式で出力することが可能です。
HAT-GPIC02A
フォトカプラテストシステム 16テストゾーン
本システムは，フォトカプラに対して高温連続通電試験を実施できる装置です。
HAT-MKP01A
高温テストシステム (コンデンサ用)
1温度／16 (/32/40/48)テストゾーン
本システムは、室温+10℃～200℃で、コンデンサのバーンインスクリーニングテストを実施する装置です。最大4,500Vのバーンイン電圧を印加でき、試験中にDUT(Device Under Test)の漏れ電流と電圧をリアルタイムで監視し、リミットを超えたデバイスは保護停止されます。また、必要に応じてバーンインテストデータの記録や出力も可能です。
HAT-MFS02A
定電流テストシステム (ツェナーダイオード用)
16テストゾーン
本システムは，ツェナーダイオードに対して高温通電試験を実施できる装置です。
