評価設備Equipment

EQUIPMENT

評価設備

SiC／GaN のダイナミックテストに対応した装置群。チップ特性に応じた細やかな調整が可能です。

H3TRB高温高湿ダイナミック逆バイアステストシステム

高温高湿ダイナミック
逆バイアステストシステム

HAT-DH3TRB01A

モジュール対応も可能。同時14条件の試験設定で複数条件をスムーズに立ち上げます。
HTGB高温ダイナミックゲートバイアステストシステム

高温ダイナミック
ゲートバイアステストシステム

HAT-DHTGB01A

チップ評価にフォーカスしたシンプルな構造。独立した Igss 測定で詳細なテストが可能です。
HTRB高温ダイナミック逆バイアステストシステム

高温ダイナミック
逆バイアステストシステム

HAT-DHTRB01A

最大200kHzのダイナミック逆バイアスパルス印加。独立した Idss 電流測定に対応します。
POWER CYCLEパワーサイクルテストシステム

パワーサイクル
テストシステム

HAT-PC01A

JEDEC 規格準拠。油冷システムにより幅広いモジュールサイズを安全・効率的に試験します。

上記4製品はデモンストレーション・トライアル評価が可能です。

その他評価設備はこちらをご覧ください

まずは、ご相談ください。

デバイス選定から量産支援まで。評価のご相談・トライアル評価を承ります。

お問い合わせ

アクセス
北九州事業所 (HS PowerDevice Lab HIBIKINO
〒808-0135 福岡県北九州市若松区ひびきの2番1号
KSRP 情報技術高度化センター A-6

折尾駅からのアクセス
折尾駅北口・5番乗り場から「学研都市ひびきの行き」または「ノンストップ学研都市行き」に乗車し、「学研都市ひびきの」で下車（約20～30分）