KITAKYUSHU · POWER SEMICONDUCTOR RELIABILITY
信頼性評価を、そのまま競争力へ
SiC／GaN パワー半導体の評価を、相談から量産支援までワンストップで。北九州の第三者評価施設が、開発のスピードと品質を支えます。
SiC / GaN
対応パワーデバイス
AQG324
JEDEC 規格に準拠
ONE-STOP
相談〜量産支援まで
パワー半導体の信頼性評価、こんな課題はありませんか?
Q
認証取得には多数のサンプルでの評価が必要で、評価に長い時間と労力がかかっている。
Q
SiC／GaN 特有のダイナミック試験を、自社の設備だけでは十分に行えない。
Q
デバイス選定が経験や勘に頼りがちで、判断の根拠を社内外に示しにくい。
Q
デバイス単体から実機搭載時までを、一貫した条件で評価したい。
それぞれ評価の課題を「外に出す」ことで、むしろ近道になる
HS PowerDevice Lab HIBIKINOなら統一条件による客観データを基に、デバイス単体から実機搭載時までを体系的に評価。透明で根拠のある判断材料を、効率よくお届けします。
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ワンストップ体制
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透明性のある第三者データ
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時間とコストの圧縮
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回路・システム視点のフィードバック
EQUIPMENT
評価設備
SiC／GaN のダイナミックテストに対応した装置群。チップ特性に応じた細やかな調整が可能です。
STANDARDS
AQG324 試験規格 対応
車載パワーモジュールの品質ガイドライン AQG324 の各試験に対応。
96個同時測定による高スループットと高精度な評価・故障解析を実現します。お客様のニーズに合わせたカスタマイズも可能です。