信頼性評価装置
製品紹介
製品概要
HAT-LSIC02A
高温動作寿命テストシステム (FPGA,DSP,VLSI用)
1温度／32テストゾーン
本システムは、DUT（Device Under Test）に対して、室温+10℃～150℃で高温動作寿命(HTOL)テストを実行できる装置です。試験中にコンポーネントの出力信号がリアルタイムに検出され、そのベクトルを自動的に比較することが可能です。
主要な特徴・仕様
- 各評価ボードには10個のプログラム可能な電源（0.5V～10V/0～25A）が提供され、電源仕様は個別にカスタマイズ可能
- 各評価ボードには256の双方向I/Oチャンネルが搭載
- 各チャンバーは最大38kWの熱放散が可能
- STIL、VCT、VECフォーマットのベクターファイルを直接インポートして使用可能
- チップBIST（組み込み自己診断テスト）をサポート
- 最大２４個の独立した温度制御が可能
- 実験者の安全を十分に考慮した設計
仕様一覧
| テスト温度ゾーン | 1 | |
|---|---|---|
| テスト温度 | RT +10℃～150℃ | |
| テストゾーン | 32 | |
| デジタル信号周波数 | 10MHz | |
| ベクター深度 | 16M depth | |
| 信号チャネル | 256チャンネルの双方向I/O | |
| クロックグループ | 8 | |
| 信号周期 | 80～20480ns | |
| タイミングエッジ | 2 エッジ | |
| PINフォーマット | 8 種類 | |
| プログラマブルVIH | 0.5V～5V | |
| 電圧比較範囲 | 0.5V～5V | |
| I/O駆動電流 | DC≧50mA、 瞬間電流>80mA | |
| DPS電源供給 | 0.5V～6.0V/25A (オプションで10V/10A) | |
| DPS電源供給数 | 10(顧客要望に応じて構成可能) | |
| DPS出力保護 | OVP(過電圧), UVP(低電圧), OCP(過電流) | |
| 電源電圧 | 三相AC200 ±20V | |
| 装置消費電力 | 100kW (typical) | |
| 装置重量 | 2200kg (typical) | |
| サイズ | 2500mm(W)x1450mm(D)x2470mm(H) | |
| 対応規格 | MIL-STD-883 MIL-STD-38510 AEC-Q101 JESD22A-108 | |
|---|---|---|
| 対応部品 | 一般的な用途の集積回路(IC)メモリ、FPGA、ARM、DSP、その他のVLSI(超大規模集積回路) | |
