信頼性評価装置
製品紹介

製品概要

HAT-PC01A/02A/03A
IGBTパワーサイクルテストシステム
2温度/3テストゾーン

本システムは、様々なサイズのIGBTモジュールのパワーサイクル試験を実施する装置です。JEDEC規格(JESD51-1)のスタティック試験に準拠し、テストモジュールの入力電力を変化させることで温度変化を生成します。変化中に、供試体の過渡温度応答曲線とテスト波形のデータ処理を行い、部品の全ての熱特性を取得することが可能です。

主要な特徴・仕様

  • 分秒単位でのパワーサイクルテストを実施可能
  • 油冷システムを搭載し、コンポーネントのKファクターを迅速かつ自動でキャリブレーション可能
  • 固定治具は調整可能であり、異なるパッケージのモジュールを固定することが可能
  • 電磁弁により,冷却水の水量を自動でも手動でも調整可能
  • DUT(Device Under Test)の熱過渡応答からデータ処理を行い,デバイスの熱特性を取得
  • 実験者の安全を考慮した設計

仕様一覧

テストチャンバー数 2
テスト温度 RT +10℃~150℃
テストゾーン数 16 ZONE/32 SLOTS
デジタル電源周波数 12.5MHz
パターンメモリー 16M
チャネル数 184 ch (32 VO)
クロックソース数 8
レート 80~20480ns
タイミングエッジ数 2 エッジ
ピンフォーマット種類 8 種類
ドライブ電圧 0.5V~5V
コンパレータ電圧 0.5V~5V
I/Oドライ電流/静止電流測定電流 DC≒50mA, 同時静止電流測定80mA
DPS仕様 0.5V~6V/25A (10V/10A optional)
DPSチャネル数 制御分離
DPSサブプロテクト OVP(過負荷), UVP(低電圧), OCP(過電流リミット)
電源電圧 三相200V~220V AC380 ±38V
装置消費電力 35kW (typical)
装置重量 1600kg (typical)
サイズ 3200mm(W)x1675mm(D)x2370mm(H)
対応規格 JESD51、AQG324
対応部品 さまざまなサイズのIGBTモジュールおよびMOSモジュール
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